NFP(ニアフィールドパターン）測定用ビームプロファイラ
LBP-C05VIS-BE-SP02
半導体レーザーや光ファイバーといった光素子のビーム特性を知るためには、出射端近傍におけるビームプロファイル（N.F.P. :near field pattern、ニアフィールドパターン）と、出射端から十分に離れた場所でのビームプロファイル（F.F.P.: far field pattern、ファーフィールドパターン）の測定が必要です。
光響では、微小ビーム径測定光学系を使用した NFP測定用ビームプロファイラをご用意しております。
特徴
- NFPの測定が可能
- 測定波長範囲 400 ~ 1100 nm
- 拡大光学系倍率 約83 倍
仕様
ビームプロファイラ
| 測定波長範囲 | 400 ~ 1100 nm |
|---|---|
| 視野範囲 | 約 76 μm × 57 μm |
| ピクセル分解能 | 56.0 nm/ピクセル(波長 808 nm における実測値) |
| 拡大光学系倍率 | 約83 倍(波長 808 nm において) |
| 拡大光学系 NA | 0.8 |
| 光学分解能 | 0.6 μm(波長 790 nm における理論値) |
| ワーキングディスタンス | 3.0 mm |
| 最大入射パワー | 10 mW |
| 付属品 | ND フィルタ 2 枚(OD3.2,OD1.2)切替式 |
ステージ
| 可動軸 | 3 軸(XYZ) |
|---|---|
| アクチュエーター | 手動差動マイクロメーター |
| 可動範囲 | 粗動 4 mm,微動 300 μm |
| 移動量 | 移動量粗動 500 μm,微動 50 μm |
| 目盛分解能 | 粗動 5 μm,微動 0.5 μm |
デジタルゲージ
| 測定範囲 | 5 mm |
|---|---|
| 最小分解能 | 0.1 μm |
| 精度(20°Cにて) | 1 μm p-p |
外形寸法図
